QAS-4280W aging system

測試資料 : CSV檔案格式

測試容量 : 最多同時640 DUT (2個測試框架組,每個測試框架可容納4片測試母板,每片母板可容納80個DUT子板)

測試儀表 : Picotest U6220A Frequency Counter

測試誤差 : ±0.5 ppm以內 (頻率精度在1E-9或更精準的外接Timebase)

重複精度 : ±0.5 ppm以內 (產品特性影響除外) (頻率穩定度在1E-9或更精準的外接Timebase)

※重複精度是指溫度穩定後經過1小時以上的SOAK時間, 在同一個產品位置5秒內兩次讀取頻率資料的差異量。

• • • MHz X’tal跟OSC的重複精度± 0.3 ppm
    • 音叉X’tal則下修為+/- 0.5 ppm

產品頻率 : 32KHz ~ 120MHz(依客戶提供之產品頻率另訂)

操作溫度 : -40℃ ~ 125℃ (測試板可以承受之溫度範圍)

溫控穩定 : ≦ +/- 0.5℃ (建議客戶使用的溫箱溫控能力)

電腦系統 : 工業電腦

顯示系統 : LCD Mointer

輸入介面 : 鍵盤+滑鼠

電源需求 : 交流單相220V ± 5% , 1KW (不含溫箱電源)

溫箱規格條件：用戶自備的溫箱內箱空間需要 ≧長40cm寬 40cm高40cm, 並且溫箱側面需有直徑 ≧ 5cm的穿線孔。

▼測試母板及子板規格

測試母板提供80個可插拔DUT子板的位置。

每片母板測試過程可於軟體介面選定X’tal或是CXO產品供應電壓 (有X’tal選項及CXO電壓8種選項,共9種)

DUT子板主要區分為KHz X’tal 、MHz X’tal 與 CXO 等三種類別：

• KHz X’tal子板

     適用產品 : 30KHz ~ 100KHz之音叉晶體

     驅動功率 : 以客戶提供樣品為準,出廠前調整固定

     (不同產品特性會影響功率,及可能影響穩定性)

• MHz X’tal子板

適用產品 : 4MHz ~ 80MHz之石英晶體(基本波)

驅動功率 : 以客戶提供樣品為準,出廠前調整固定

(不同產品特性會影響功率,及可能影響穩定性)

• CXO子板

　適用產品 : 1MHz ~ 100MHz

　產品電壓 : 8種電壓選項,由軟體做選擇

　產品電流 : 單顆耗電≦80mA, 依序每兩行(16個位置) ≦800mA